南通立式半导体测试箱厂家 CTS02D CTS03D

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产品名称：南通立式半导体测试箱厂家
产品型号：CTS02D CTS03D
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简单介绍

南通立式半导体测试箱厂家 GB/T2423.1-2001低温试验方法 GB/T2423.2-2001高温试验方法 GB/T2423.22-2002温度变化试验 GJB150.5-86温度冲击试验 GJB360A-96 方法107温度冲击试验

产品描述

南通立式半导体测试箱厂家

南通立式半导体测试箱厂家
浙江冷热冲击试验机温度冲击试验箱/昆山冷热冲击试验箱执行与满足标准： GB/T11158-2008 上海南京无锡冷热冲击试验箱/温度冲击试验箱 /高温试验箱技术条件
    浙江三箱式冷热冲击试验机_温州两箱温度冲击试验箱GB/T10589-2008 低温试验箱技术条件
    GB/T2423.1-2001低温试验方法
    GB/T2423.2-2001高温试验方法
    GB/T2423.22-2002温度变化试验
    GJB150.5-86温度冲击试验
    GJB360A-96 方法107温度冲击试验

   浙江三箱式冷热冲击试验机_温州两箱温度冲击试验箱主要规格技术参数

    型号 CTS02D CTS03D
    调温方式平衡调温方式(BTHC)方式
    风门转换方式汽缸
    温度范围：试验箱 -70～+125℃
    温度范围：高温箱 +60～+200℃
    温度范围：低温箱 -75～0℃
    升温速率 +30～+200℃≤45min
    降温速率 +30～-75℃≤80min
    风门转换时间 15S
    　上海南京无锡冷热冲击试验箱/温度冲击试验箱 / 昆山冷热冲击试验箱直接冲击高温(85℃：30min)一5min一低温(—55℃：30min)
    工作模式上海南京无锡冷热冲击试验箱/温度冲击试验箱 /昆山江苏无锡冷热冲击试验箱/温度冲击试验箱过度冲击
    高温(85℃：30min)一5min一环境温度(25℃：5min)

    一5min一低温(—55℃：30min)
    温度波动度 ≤1.0℃
    温度偏差 ±2℃
    内部尺寸(cm) 67X65X46 67X95X46
    外形尺寸(Om) 191X175X187 191X205 X187
    工作室容积(L) 200 300
    安装效率(kw) 32 45
    外壳防锈处理冷轧钢板(喷塑)
    内体上等不锈钢板
    绝缘聚氨酯发泡
    加热器镍路合金电热丝式加热器
    循环风机离心风机
    制冷机德国COPELAND半封闭压缩机组
    制冷方式机械式复叠制冷方式水冷
    电源交流380V，3相，5线
    控制器触摸屏控制器
    标准配置观察窗，测试孔(e50mm)，照明灯，累时器，电源线



    **装置电源用漏电保护器，压机过载、超压保护器，压机温度保护器，加热过载
    短路保护器，超温保护，相序保护器

http://www.oven.cc
E-mail:info@oven.cc
国内免费服务专线：400-0000-217

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