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涂层测厚仪 TT230-测厚仪
涂层测厚仪TT230主要技术指标
测量原理:涡流法
测量范围：1～1250μm
测量精度：±（3%H+1.5）μm（零点校准）
　　　　　±[(1～3)%H+1.5] μm（二点校准） 
涂层测厚仪TT230主要作用
可以零校准和二点校准。
基本在测量头的校准。
有五个统计:平均(MEAN),*大(MAX),*低(MIN),测试号码(NO),标准偏差(S.DEV)。
15个测量可以存储和统计计算。
有两个测量方法:连续模式(CONTINUE)和单一测量模式(SINGLE)。
自动关机作用。
删除作用:在测量单可疑数据删除,也可以删除所有的数据存储区,为新的测量。
操作过程有嗡嗡声提示。
低电压指令作用。
有一个错误提示作用。
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